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金相顯微鏡應(yīng)用于電路板的檢測(cè)

瀏覽次數(shù):185 發(fā)布日期:2025-4-25  來(lái)源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)

【案例背景】
某公司需要采購(gòu)一臺(tái)金相顯微鏡,用于檢測(cè)電路板上的焊點(diǎn)是否出現(xiàn)斷裂、是否存在劃痕及查看劃痕的形態(tài)。電路板上存在的劃痕,可能會(huì)導(dǎo)致電路斷路、短路或信號(hào)干擾,影響設(shè)備性能和可靠性,因此需要檢測(cè)電路板上的劃痕,以便及時(shí)修復(fù),避免潛在故障。明美的金相顯微鏡MJ31支持明場(chǎng)和偏光觀察,可以觀測(cè)到電路板上的劃痕,效果顯著,使用簡(jiǎn)便。


 

【實(shí)驗(yàn)/設(shè)備條件】
防震的工作臺(tái)

【儀器/耗材清單】
明美金相顯微鏡MJ31

【樣品】
待檢金屬電路板

【實(shí)驗(yàn)/操作方法】
一、概述
實(shí)驗(yàn)使用明美的金相顯微鏡MJ31用于觀測(cè)電路板上是否有劃痕及劃痕的形態(tài),在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中分別用明場(chǎng)和偏光進(jìn)行觀察。

二、制樣
由于使用的是金相顯微鏡MJ31進(jìn)行觀察,樣品為金屬電路板,無(wú)需制成玻片,將薄金屬片電路板盡量壓平,便于觀察。

三、觀察
①將金屬片電路板放在載物臺(tái)的玻璃板上,由于電路板不透光,使用上光源反射光進(jìn)行明場(chǎng)觀察,切換低倍物鏡(5X物鏡或者10X物鏡),進(jìn)行對(duì)焦。

②將落射照明器上的起偏器和檢偏器推入光路中,旋轉(zhuǎn)起偏器,在目鏡中觀察,將背景調(diào)到最黑時(shí)進(jìn)行偏光觀察,效果最佳,尋找電路板上是否有劃痕。

③切換到高倍鏡,觀察目鏡下的電路板劃痕的形態(tài)。

四、結(jié)果判讀
在目鏡下觀察到電路板劃痕,安裝好顯微相機(jī),連接顯微相機(jī)與電腦,可以在軟件上將觀察到的圖像進(jìn)行拍照,記錄劃痕的數(shù)量與形態(tài),同時(shí)可以在軟件上對(duì)電路板劃痕的長(zhǎng)度進(jìn)行測(cè)量。

【實(shí)驗(yàn)結(jié)果/結(jié)論】
在軟件上觀察拍攝到的圖像,針對(duì)劃痕的形態(tài)和數(shù)量,判斷劃痕對(duì)電路板的性能的影響,同時(shí)明美的金相顯微鏡MJ31有著明場(chǎng)和偏光兩種觀察方式,可以清晰的觀察到金屬片電路板上的劃痕,能高效,高質(zhì)量地完成對(duì)電路板的劃痕檢測(cè),能夠廣泛地應(yīng)用于觀測(cè)電子元件,礦石等。

【場(chǎng)景圖/實(shí)拍效果圖】


金相顯微鏡MJ31和金屬電路板劃痕

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