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徠卡學院 | 石油地質勘探-徠卡電鏡制樣解決方案

瀏覽次數(shù):2935 發(fā)布日期:2017-2-16  來源:本站 僅供參考,謝絕轉載,否則責任自負

徠卡納米技術部為石油地質勘探提供電鏡制樣全套解決方案。

 

 

SEM樣品制備流程

 

 

TEM樣品制樣流程

 

 

應用實例

砂巖樣品,離子束切割,放大倍數(shù)300倍

 

砂巖樣品,離子束拋光,放大倍數(shù)500倍

 

油頁巖樣品,離子束切割,放大倍數(shù)80倍

 

油頁巖樣品,離子束拋光,放大倍數(shù)12000倍

 

油頁巖樣品,離子束切割,放大倍數(shù)40000倍

 

油頁巖樣品,離子束切割,放大倍數(shù)50000倍

 

發(fā)布者:徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿易有限公司
聯(lián)系電話:4006307761
E-mail:lmscn.customers@leica-microsystems.com

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