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高感度分光輻射亮度計(jì) HS-1000

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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量子效率測(cè)量系統(tǒng) QE-2100

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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線掃描膜厚儀【離線型】

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
型      號(hào):
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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紫外分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng) New

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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紫外分光全光譜光通量測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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液晶層間隙量測(cè)設(shè)備 RETS series

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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橢偏儀 FE-5000/5000S

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
型      號(hào): FE-5000/5000S
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總光譜光通量測(cè)量系統(tǒng) HM/FM series

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneoSE

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) GS-300

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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高速LED光學(xué)特性儀 LE series

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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膜厚量測(cè)儀 FE-300

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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線掃描膜厚儀【在線型】

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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嵌入式膜厚檢測(cè)儀

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA

產(chǎn)地/品牌:上海
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多樣品nano粒子徑測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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光波場(chǎng)三維顯微鏡 MINUK

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo

產(chǎn)地/品牌:日本/大塚
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